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製品情報

表面分析装置

アルバックファイの表面分析技術は材料評価に不可欠な技術として、バイオなどの基礎的研究から様々な新材料開発などの応用研究、品質管理や故障解析など、多様な分野でご利用いただけます。

飛行時間型二次イオン質量分析装置 (TOF-SIMS)PHI nanoTOF II™

SIMS分析・計測機器表面分析装置

nanoTOF II は、イオン透過特性に優れたトリプルフォーカス静電アナライザ（TRIFT型アナライザ）を継承しつつ、新しい一次イオン銃に...

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四重極型二次イオン質量分析装置 (D-SIMS)PHI ADEPT-1010

SIMS分析・計測機器表面分析装置

二次イオン質量分析法 ( SIMS: Secondary Ion Mass Spectrometry ) は試料にイオンを照射し、試料...

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走査型オージェ電子分光分析装置 (AES/SAM)PHI 710

AES分析・計測機器表面分析装置

オージェ電子分光法 ( AES: Auger Electron Spectroscopy) は、試料に電子線を照射したときに放出される...

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走査型オージェ電子分光分析装置 (AES/SAM)PHI 4700 Thin Film Analyzer

AES分析・計測機器表面分析装置

電子分光法 ( AES: Auger Electron Spectroscopy) は、固体表面に電子線を照射することにより放出される...

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走査型X線光電子分光分析装置 (XPS/ESCA)PHI X-tool

XPS / ESCA分析・計測機器表面分析装置

PHIX-toolは簡単操作で高性能XPSを実現する自動マイクロXPS装置です。

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