レーザフラッシュ法熱定数測定装置　TC-1200RH

新素材の熱伝導性評価に不可欠な装置です。
ファインセラミックスの熱拡散率、比熱容量測定装置としてJIS化（JISR　1611-1997）されています。

熱電特性評価装置　ZEM-3シリーズ

熱電材料のゼーベック係数／電気伝導率の測定に最適です。
熱電材料の熱電率（ゼーベック係数）と電気伝導率を同時に測定する装置です。簡単な操作で－100℃～1000℃までの温度範囲の測定機を用意しております。

光交流法熱拡散率測定装置　LeaserPITシリーズ

薄板、薄膜の熱拡散率／熱伝導率測定に最適です。
スキャニングレーザ加熱AC法（Angstrom法）により、成膜したサンプリング基板の見かけの熱拡散率とサンプリング基板単体の熱拡散率の測定結果から基板上に成膜された厚さサブミクロンの薄膜の熱伝導率を計測します。